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被動元器件又稱為無源器件，是指不影響信號基本特征，僅令訊號通過而未加以更改的電路元件。最常見的有電阻、電容、電感、陶振、晶振、變壓器等。被動元件，區(qū)別于主動元件。而國內此前則稱無源器件和有源器件。被動元件內部不需要電源驅動，其本身不消耗電能，只需輸入信號就可以做出放大、震蕩、計算等響應，無需外部激勵單元。各種電子產品中含有被動元件，是電子電路產業(yè)的基石。下面【四葉】小編就來分享一下被動元器件需要做的可靠性測試有哪些？一起往下看吧！
AEC-Q200測試是對元器件品質與可靠度的認可。近年來，車載設備不斷增加，車用元件高可靠性要求愈發(fā)嚴苛，每一個零件都與汽車駕駛員和乘客安全息息相關，所以選擇高品質的元器件至關重要。以下是AEC-Q200常見的測試項目。
一、板彎曲測試
測試類型：板彎曲測試
測試要求：無明顯的外觀缺陷。
參考標準：AEC-Q200-005 (Sample Size：30 PCS )
測試方法：儀器由機械裝置組成，可施加使用線路板彎曲至少Dx = 2mm的力或者是按使用者規(guī)格或Q200中的定義。施加外力的持續(xù)時間應為60+5秒，只需施加一次外力到線路板上。
二、端子強度測試
測試類型：端子強度測試
測試要求：無明顯的外觀缺陷。
參考標準：AEC-Q200-006
測試方法：施加一個17.7N（1.8kg)的力到測試器件的側面，此外力的施加時間為60+1秒。
三、端子強度測試
測試類型：端子強度測試
測試要求：無明顯的外觀缺陷。
參考標準：MIL-STD-202 Method 211
測試方法：只進行引腳器件的引腳牢固性測試。條件A(910克);C(1.13公 斤);E(1.45公斤-mm)。
端子強度試驗視頻參考：
推拉力測試機符合根據以上三種測試要求：
廣泛用于與LED封裝測試、IC半導體封裝測試、TO封裝測試、IGBT功率模塊封裝測試、光電子元器件封裝測試、大尺寸PCB測試、MINI面板測試、大尺寸樣品測試、汽車領域、航天航空領域、軍工產品測試、研究機構的測試及各類院校的測試研究等應用。
四、高溫儲存試驗
測試類型：高溫儲存試驗
測試要求：
1. 無明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標準：MIL-STD-202G Method 108
測試方法：溫度: N℃ (N:依據產品規(guī)格設定)
在額定工作溫度下放置器件1000 小時.例如:125℃的產品可以在 125℃下存儲1000 小時,同樣地也適用于105℃和85℃的產品不通電。試驗結束后24±4 小時內進行測試。
五、溫度循環(huán)試驗
測試類型：溫度循環(huán)試驗
測試要求：
1. 無明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標準：JESD22 Method JA-104
測試方法：溫度: N℃ (N: 依據產品規(guī)格設定)
1000 個循環(huán)(-40℃到125℃)。注意:如果85℃或105℃的產 品,1000 個循環(huán)應在其溫度等級下進行。試驗結束后24±4 小時內 進行測試。每個溫度的停留時間不超過30 分鐘,轉換時間不超過 1 分鐘。
六、高溫高濕試驗
測試類型：高溫高濕試驗
測試要求：
1. 無明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標準：MIL-STD-202G Method 103
測試方法：在溫度85℃/濕度85%的條件下放置1000 小時,不通電.試驗結束 后24±4 小時內進行測試。
七、工作壽命試驗
測試類型：工作壽命試驗
測試要求：
1. 無明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標準：MIL-PRF-27
測試方法：1000 小時105℃,如果125℃或155℃的產品，應在其溫度下進行， 試驗結束后24±4 小時內進行測試。
八、機械沖擊試驗
測試類型：機械沖擊試驗
測試要求：
1. 無明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標準：MIL-STD-202Method 213
測試方法：條件C: 半正弦波, 峰值加速度: 100g.s; 脈沖持續(xù)時間: 6ms; 使用半正弦波形最大速度變化12.3英尺/秒。
九、振動測試
測試類型：振動測試
測試要求：
1. 無明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標準：MIL-STD-202 Method 204
測試方法：測試頻率從10HZ 到2000HZ, 5g 的力20 分鐘為一循環(huán), XYZ 每個方向各12 循環(huán)。
十、焊錫耐熱測試
測試類型：焊錫耐熱測試
測試要求：
1. 無明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標準：MIL-STD-202Method 210
測試方法：
1. 插件類:
樣品不進行預熱，在溫度260℃的條件下浸入本體1.5mm的深度10秒(260+0/-5℃)。
2. 貼片類:
A：參照下圖回流焊曲線過2次;
B：峰值溫度為: 260+0/-5℃;
C：回流焊溫度條件是根據我司設備制定的。
十一、可焊性測試
測試類型：可焊性測試
測試要求：
1. 無明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標準：IPC J-STD-002D
測試方法：
1. 蒸汽老化8 小時 (93℃);
2. 于245℃±5℃的溫度下焊錫5s
十二、耐溶劑試驗
測試類型：耐溶劑試驗
測試要求：無明顯的外觀缺陷。
參考標準：MIL-STD- 202 Method 215
注意：增加水洗清洗劑-OKEM清洗劑或其它相同的溶劑，不要使用禁止的溶劑。
十三、外觀
測試類型：外觀
測試要求：不需進行電氣測試。
參考標準：MIL-STD-883 Method 2009
測試目的：檢查器件結構，標識和工藝品質。
十四、尺寸
測試類型：尺寸
測試要求：不要求電氣測試。
參考標準：JESD22 Method JB-100
測試目的：器件詳細規(guī)格驗證物理尺寸。
注意：使用者和供應商規(guī)格。
十五、電氣特性測試
測試類型：電氣特性測試
測試要求：
1. 無明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標準：User Spec.
樣品數量要求進行參數試驗：總結列出室溫 下及最低、最高工作溫度下器件的最小值、最大值平均值和標準差。
以上就是關于被動元器件需要做哪些可靠性測試介紹了，本文參考依據標準AEC-Q200。希望對大家能有所幫助！對于推拉力機半導體、芯片、集成電路等，如果您有遇到不清楚的問題，歡迎隨時聯系晨欣，晨欣的技術團隊將會為您免費解答疑惑！
