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被動(dòng)元器件又稱為無(wú)源器件，是指不影響信號(hào)基本特征，僅令訊號(hào)通過(guò)而未加以更改的電路元件。最常見(jiàn)的有電阻、電容、電感、陶振、晶振、變壓器等。被動(dòng)元件，區(qū)別于主動(dòng)元件。而國(guó)內(nèi)此前則稱無(wú)源器件和有源器件。被動(dòng)元件內(nèi)部不需要電源驅(qū)動(dòng)，其本身不消耗電能，只需輸入信號(hào)就可以做出放大、震蕩、計(jì)算等響應(yīng)，無(wú)需外部激勵(lì)單元。各種電子產(chǎn)品中含有被動(dòng)元件，是電子電路產(chǎn)業(yè)的基石。下面【四葉】小編就來(lái)分享一下被動(dòng)元器件需要做的可靠性測(cè)試有哪些？一起往下看吧！
AEC-Q200測(cè)試是對(duì)元器件品質(zhì)與可靠度的認(rèn)可。近年來(lái)，車載設(shè)備不斷增加，車用元件高可靠性要求愈發(fā)嚴(yán)苛，每一個(gè)零件都與汽車駕駛員和乘客安全息息相關(guān)，所以選擇高品質(zhì)的元器件至關(guān)重要。以下是AEC-Q200常見(jiàn)的測(cè)試項(xiàng)目。
一、板彎曲測(cè)試
測(cè)試類型：板彎曲測(cè)試
測(cè)試要求：無(wú)明顯的外觀缺陷。
參考標(biāo)準(zhǔn)：AEC-Q200-005 (Sample Size：30 PCS )
測(cè)試方法：儀器由機(jī)械裝置組成，可施加使用線路板彎曲至少Dx = 2mm的力或者是按使用者規(guī)格或Q200中的定義。施加外力的持續(xù)時(shí)間應(yīng)為60+5秒，只需施加一次外力到線路板上。
二、端子強(qiáng)度測(cè)試
測(cè)試類型：端子強(qiáng)度測(cè)試
測(cè)試要求：無(wú)明顯的外觀缺陷。
參考標(biāo)準(zhǔn)：AEC-Q200-006
測(cè)試方法：施加一個(gè)17.7N（1.8kg)的力到測(cè)試器件的側(cè)面，此外力的施加時(shí)間為60+1秒。
三、端子強(qiáng)度測(cè)試
測(cè)試類型：端子強(qiáng)度測(cè)試
測(cè)試要求：無(wú)明顯的外觀缺陷。
參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202 Method 211
測(cè)試方法：只進(jìn)行引腳器件的引腳牢固性測(cè)試。條件A(910克);C(1.13公 斤);E(1.45公斤-mm)。
端子強(qiáng)度試驗(yàn)視頻參考：
推拉力測(cè)試機(jī)符合根據(jù)以上三種測(cè)試要求：
廣泛用于與LED封裝測(cè)試、IC半導(dǎo)體封裝測(cè)試、TO封裝測(cè)試、IGBT功率模塊封裝測(cè)試、光電子元器件封裝測(cè)試、大尺寸PCB測(cè)試、MINI面板測(cè)試、大尺寸樣品測(cè)試、汽車領(lǐng)域、航天航空領(lǐng)域、軍工產(chǎn)品測(cè)試、研究機(jī)構(gòu)的測(cè)試及各類院校的測(cè)試研究等應(yīng)用。
四、高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)
測(cè)試類型：高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)
測(cè)試要求：
1. 無(wú)明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202G Method 108
測(cè)試方法：溫度: N℃ (N:依據(jù)產(chǎn)品規(guī)格設(shè)定)
在額定工作溫度下放置器件1000 小時(shí).例如:125℃的產(chǎn)品可以在 125℃下存儲(chǔ)1000 小時(shí),同樣地也適用于105℃和85℃的產(chǎn)品不通電。試驗(yàn)結(jié)束后24±4 小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
五、溫度循環(huán)試驗(yàn)
測(cè)試類型：溫度循環(huán)試驗(yàn)
測(cè)試要求：
1. 無(wú)明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標(biāo)準(zhǔn)：JESD22 Method JA-104
測(cè)試方法：溫度: N℃ (N: 依據(jù)產(chǎn)品規(guī)格設(shè)定)
1000 個(gè)循環(huán)(-40℃到125℃)。注意:如果85℃或105℃的產(chǎn) 品,1000 個(gè)循環(huán)應(yīng)在其溫度等級(jí)下進(jìn)行。試驗(yàn)結(jié)束后24±4 小時(shí)內(nèi) 進(jìn)行測(cè)試。每個(gè)溫度的停留時(shí)間不超過(guò)30 分鐘,轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過(guò) 1 分鐘。
六、高溫高濕試驗(yàn)
測(cè)試類型：高溫高濕試驗(yàn)
測(cè)試要求：
1. 無(wú)明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202G Method 103
測(cè)試方法：在溫度85℃/濕度85%的條件下放置1000 小時(shí),不通電.試驗(yàn)結(jié)束 后24±4 小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
七、工作壽命試驗(yàn)
測(cè)試類型：工作壽命試驗(yàn)
測(cè)試要求：
1. 無(wú)明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-PRF-27
測(cè)試方法：1000 小時(shí)105℃,如果125℃或155℃的產(chǎn)品，應(yīng)在其溫度下進(jìn)行， 試驗(yàn)結(jié)束后24±4 小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
八、機(jī)械沖擊試驗(yàn)
測(cè)試類型：機(jī)械沖擊試驗(yàn)
測(cè)試要求：
1. 無(wú)明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202Method 213
測(cè)試方法：條件C: 半正弦波, 峰值加速度: 100g.s; 脈沖持續(xù)時(shí)間: 6ms; 使用半正弦波形最大速度變化12.3英尺/秒。
九、振動(dòng)測(cè)試
測(cè)試類型：振動(dòng)測(cè)試
測(cè)試要求：
1. 無(wú)明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202 Method 204
測(cè)試方法：測(cè)試頻率從10HZ 到2000HZ, 5g 的力20 分鐘為一循環(huán), XYZ 每個(gè)方向各12 循環(huán)。
十、焊錫耐熱測(cè)試
測(cè)試類型：焊錫耐熱測(cè)試
測(cè)試要求：
1. 無(wú)明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202Method 210
測(cè)試方法：
1. 插件類:
樣品不進(jìn)行預(yù)熱，在溫度260℃的條件下浸入本體1.5mm的深度10秒(260+0/-5℃)。
2. 貼片類:
A：參照下圖回流焊曲線過(guò)2次;
B：峰值溫度為: 260+0/-5℃;
C：回流焊溫度條件是根據(jù)我司設(shè)備制定的。
十一、可焊性測(cè)試
測(cè)試類型：可焊性測(cè)試
測(cè)試要求：
1. 無(wú)明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標(biāo)準(zhǔn)：IPC J-STD-002D
測(cè)試方法：
1. 蒸汽老化8 小時(shí) (93℃);
2. 于245℃±5℃的溫度下焊錫5s
十二、耐溶劑試驗(yàn)
測(cè)試類型：耐溶劑試驗(yàn)
測(cè)試要求：無(wú)明顯的外觀缺陷。
參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD- 202 Method 215
注意：增加水洗清洗劑-OKEM清洗劑或其它相同的溶劑，不要使用禁止的溶劑。
十三、外觀
測(cè)試類型：外觀
測(cè)試要求：不需進(jìn)行電氣測(cè)試。
參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-883 Method 2009
測(cè)試目的：檢查器件結(jié)構(gòu)，標(biāo)識(shí)和工藝品質(zhì)。
十四、尺寸
測(cè)試類型：尺寸
測(cè)試要求：不要求電氣測(cè)試。
參考標(biāo)準(zhǔn)：JESD22 Method JB-100
測(cè)試目的：器件詳細(xì)規(guī)格驗(yàn)證物理尺寸。
注意：使用者和供應(yīng)商規(guī)格。
十五、電氣特性測(cè)試
測(cè)試類型：電氣特性測(cè)試
測(cè)試要求：
1. 無(wú)明顯的外觀缺陷。
2. ΔL/L≦10%
3. ΔDCR/DCR≦10%
參考標(biāo)準(zhǔn)：User Spec.
樣品數(shù)量要求進(jìn)行參數(shù)試驗(yàn)：總結(jié)列出室溫 下及最低、最高工作溫度下器件的最小值、最大值平均值和標(biāo)準(zhǔn)差。
以上就是關(guān)于被動(dòng)元器件需要做哪些可靠性測(cè)試介紹了，本文參考依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)AEC-Q200。希望對(duì)大家能有所幫助！對(duì)于推拉力機(jī)半導(dǎo)體、芯片、集成電路等，如果您有遇到不清楚的問(wèn)題，歡迎隨時(shí)聯(lián)系晨欣，晨欣的技術(shù)團(tuán)隊(duì)將會(huì)為您免費(fèi)解答疑惑！
